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技術文章
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2021-1210
ElFys提供一系列高性能黑硅光電二極管。該光電探測器是通過采用表面納米結構技術與原子層沉積涂層相結合，大大提高了光收集效率。在200nm至950nm范圍內具有光響應，外量子效率≥96%（通過德國國家計量研究院PTB認證）。此光電探測器在紫外波段也同樣具有*的量子效率，比普通的硅光電二極管高出兩倍以上。黑硅表面與定制的原子層沉積涂層相結合，極大地提高了感應角度范圍內的表面吸收率，具有*吸光度的超寬感應角度（95%@60°）ElFys提供SM和PD兩大系列的標準產品，也可以針對...
查看更多2021-129
膜厚測量儀屬于一種常見的薄膜厚度測量儀器，在日常生活以及工業制造中都可以看見它的身影，膜厚主要對各種薄膜的厚度進行測定，測量速度快、精度高，在薄膜制造業有著很重要的應用。除此之外，它還具有作業位置靈活、數據輸出、測量單位自動轉換等特性，更是方便了人們的測量工作。這種儀器在行業當中的zhi名度很高，有著非常重要的作用，它可以測試金屬以及其他各種材料的厚度，現如今被廣泛的運用在化工，冶金、造船、石油、航天等領域當中，能給人們的生活帶來很大的幫助。同時它在特點方面也非常突出，比如擁...
查看更多2021-127
光纖光譜儀屬于光譜儀一種常用類型，具有靈敏度高、操作簡便、使用靈活、穩定性好、度高等優點。光纖光譜儀工作原理：光纖光譜儀結構緊湊，包括入射狹縫、準直物鏡、光柵、成像反射鏡、濾色片和陣列探測器，還包括數據采集系統和數據處理系統。光信號經入射狹縫投射到準直物鏡上，將發散光變成準平行光反射到光柵上，色散后經成像反射鏡將光譜呈在陣列接收器的接收面上，形成光譜譜面。光譜譜面既是單色光的序列排布(有次光譜影響)，讓整個光譜中任一個微小譜帶照射到相對應探測器的像元上，在此將光信號轉換成電子...
查看更多2021-1120
激光M2因子分析儀其物理實質是將實際激光光束與標準基模高斯光束（TEM00）進行比較，反映實際激光光束與標準基模高斯光束（TEM00）的接近程度。儀器在工作過程中造束腰透鏡和相機位置固定，通過兩片反光鏡在光學導軌上的自動移動，相機就可以的捕捉到從近場到遠場不同位置的激光光斑，再通過軟件進行數據分析與計算，從而得到M2值、發散角、束腰大小等參數。Spiricon采用了的Ultracal基線校準技術，從而可以有效去除環境噪聲，得到準確的數據。它是一款符合ISO標準的M2測量設備，...
查看更多2021-1018
帶通濾光片，一般的濾光片包括長波通濾光片，短波通濾光片等。濾光片是用來選取所需輻射波段的光學器件。濾光片的一個共性，就是沒有任何濾光片能讓天體的成像變得更明亮，因為所有的濾光片都會吸收某些波長，從而使物體變得更暗。帶通濾光片是通過在基底表面沉積多層光學材料制備而成的。通常情況下，多個介質膜堆由間隔層隔開。介質膜堆由大量高折射率和低折射率的介質材料層交替組成。介質膜堆中每層膜的厚度為λ/4，其中，λ為濾光片的中心波長(即濾光片最大透過率處對應的波長)。間隔層位于介質膜堆之間，厚...
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