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PRODUCT CENTER

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當前位置：首頁產品中心光度色度LCD/OLED缺陷自動光學檢測系統OLED/QLED 發光器件壽命測試系統

OLED/QLED 發光器件壽命測試系統
產品簡介：

OLED/QLED 發光器件壽命測試系統 通道數量：32、64、128，可擴展到512 路；測量模式1：恒流、恒壓、恒亮度，需根據客戶需求選定

產品型號：

更新時間：2025-11-08

廠商性質：代理商

訪問量：3205

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產品介紹

OLED/QLED 發光器件壽命測試系統 

32 路系統                              64 路系統

OLED/QLED 發光器件壽命測試系統 

項目

關鍵指標

備注

通道數量

32、64、128

可擴展到512 路

測量模式1

恒流、恒壓、恒亮度

需根據客戶需求選定

測量模式2

Pulse 電壓、Pulse 電流

選配

電流輸出

0.03uA~100mA，精度優于±1%

用戶參照核心技術電流源選配

電壓輸出

飽和亮度

1.0~20V，精度<±1% 通常10000cd/m2 以上

標配

可根據客戶需求定制

器件結構

底發光、頂發光、倒裝、正裝

需根據用戶需求定制

測試盒/ 夾具

測試基片尺寸 5cm×5cm

可定制支持20cm×20cm

高溫測試

RT+10 度~100 度；-50 度~100 度；環境測試

選配

特殊條件

特殊氣氛測試；手套箱測試；UPS 電源等

選配、定制

軟件平臺

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穩定、高效

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